• Physique

Laboratoire de physique et d’étude des matériaux | LPEM

  • Unité mixte de recherche

Publié le 22/04/2020 - Mis à jour le 16/12/2024

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  • Dimitri Roditchev

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  • Centre National de la Recherche Scientifique | CNRS
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Publications

  1. Publications LPEM

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  • Article dans une revue

SiC MOSFET structure at the die level with AFM sMIM Mode

Rosine Coq Germanicus, Mahima Chaudhary, Kimmo Niskanen, Xavier Larose, Vanessa Chazal, Guillaume Bascoul

For the enhancement of Silicon Carbide (SiC) processes and reliability assessments, precise and comprehensive characterization of the structural and local electrical properties of semiconductor layers at the die level is crucial. In this study, the die-level structure of a commercial SiC MOSFET is…

2024 IEEE 11th Workshop on Wide Bandgap Power Devices & Applications (WiPDA), 2024, pp.1-6. ⟨10.1109/wipda62103.2024.10773106⟩. ⟨hal-04838098⟩

  • Article dans une revue

Numerical investigation of electric charge measurement by PWP method at solid and liquid interfaces

Valentin Berry, Liren Zheng, Paul Leblanc, Stéphane Holé, Thierry Paillat

When a liquid contacts a solid, physicochemical reactions form an electrical double layer (EDL) at the interface. Understanding the EDL is crucial to prevent electrical device failures, but few experimental methods can access this charge distribution. Recently, the pressure wave propagation (PWP)…

Journal of Electrostatics, 2024, 132, pp.103991. ⟨10.1016/j.elstat.2024.103991⟩. ⟨hal-04782090⟩

  • Thèse

Étude et caractérisation des interfaces conducteur/isolant par la méthode de l'onde de pression, Study and characterization of the conductor/insulator interfaces by the pressure wave method

Lin Zheng

Les interfaces entre un conducteur et un isolant sont généralement supposées parfaites, c'est-à-dire que la longueur de Debye dans l'isolant est supposée très grande devant son épaisseur. Il est montré dans ce travail que ce n'est pas le cas et que des états d'interface…, The interfaces between a conductor and an insulator are generally assumed to be perfect, meaning that the Debye length in the insulator is considered to be much larger than its thickness. However, this work shows that this is not the case and that interface states generate a contact potential that…

Sciences de l'ingénieur [physics]. Sorbonne Université, 2024. Français. ⟨NNT : 2024SORUS288⟩. ⟨tel-04849121⟩

  • Article dans une revue

Influence of interface voltage on charge build-up under high voltage

Lin Zheng, Stéphane Holé

The interface voltage appearing when two materials are brought into contact was measured with a high sensitive pressure-wave-propagation measurement setup in various low density and high density polyethylene samples coated either with aluminum or gold electrodes. The samples were then tested under…

Physica Scripta, 2024, 99 (12), pp.125921. ⟨10.1088/1402-4896/ad8a9a⟩. ⟨hal-04802416⟩

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Laboratoire de Physique et d’Étude des Matériaux, École Supérieure de Physique et de Chimie Industrielles, 10 Rue Vauquelin, Bat. C, 75231 PARIS CEDEX 05
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